TEL P-8XL全自动探针台产品说明
TEL P-8XL全自动探针台是一款高精度的半导体检测设备,主要用于半导体晶圆、芯片等微电子器件的电学性能测试。设备集成了自动化控制系统与精密机械结构,能够实现样品的自动传输、定位及测试,广泛应用于半导体制造、研发实验室等场景。
产品特点
- 全自动操作:配备自动化样品传输系统,支持样品的自动进样与回收,减少人工干预,提高测试效率。
- 高精度定位:采用精密导轨与驱动技术,确保样品台定位精度,满足微米级测试需求。
- 直观人机交互:配备显示屏及操作面板,界面简洁,操作便捷,便于用户设置测试参数与监控测试过程。
- 稳定可靠结构:主体采用白色与浅蓝色耐蚀材料,结构稳固,适应工业环境长期稳定运行。
应用场景
- 半导体晶圆制造厂的电学参数测试环节
- 微电子器件研发实验室的样品性能评估
- 芯片封装前的质量检测与筛选
- 高校及科研机构的半导体材料与器件研究
技术参数(图片中无可见详细参数,以下为同类设备参考)
- 样品尺寸:支持常规晶圆尺寸(具体需参考设备手册)
- 定位精度:微米级(具体数值以原厂参数为准)
- 自动化程度:全自动样品处理与测试流程
- 操作系统:集成专用控制软件,支持参数设置与数据记录
注:以上技术参数仅供参考,具体以设备实际配置及原厂说明为准。如需详细参数,建议联系供应商获取完整资料。
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